Patendi kehtivus SIFT objekti tuvastamise algoritmi jaoks on lõppenud

8. märtsil lõppes patendi kehtivus US6711293B1, mis kirjeldab tehnikat SIFT (Scale Invariant Feature Transform), mis on mõeldud tunnuste tuvastamiseks piltidel. SIFT-i kasutatakse valdkondades nagu objektide tuvastamine pildil, 3D mudelite kattumine reaalsesse pildisse, kaardiga sobitamine, asukoha määramine 3D ruumis ja panoraamide õmblemine. Kui varem oli SIFT-i kasutamiseks kaubandustegevustes vajalik litsentsi või loa saamine, siis nüüd on see saadaval kõigile soovijatele.

SIFT-i rakendamine pakutakse OpenCV-s, kuid on seotud moodulite kogumikuga «non-free«, selle jaoks on vajalik eraldi aktiveerimine. Patendi kehtivuse lõpp lubab SIFT-i viia OpenCV põhikomplekti ning kasutada seda piiramata vabatöödes objektide tuvastamiseks.

Allikas: opennet.ru