4.2.2. RBER an Scheif Alter (ausser PE Zyklen).
Figur 1 weist eng bedeitend Korrelatioun tëscht RBER an Alter, wat d'Zuel vun de Méint ass, wou d'Disk am Feld war. Wéi och ëmmer, dëst kann eng spurious Korrelatioun sinn well et wahrscheinlech ass datt eeler Drive méi PEs hunn an dofir ass RBER méi mat PE Zyklen korreléiert.
Fir den Effet vum Alter op Verschleiung verursaacht duerch PE Zyklen ze eliminéieren, hu mir all Méint vum Service a Container gruppéiert mat den Decile vun der PE Zyklusverdeelung als Ofschnëtt tëscht Container, zum Beispill, den éischte Container enthält all Méint vum Scheif Liewen bis zum éischten Decil vun der PE Zyklus Verdeelung, a sou weider Weider. Mir verifizéiert datt bannent all Container d'Korrelatioun tëscht PE Zyklen an RBER zimlech kleng ass (well all Container nëmmen eng kleng Gamme vu PE Zyklen deckt), an dann de Korrelatiounskoeffizient tëscht RBER an Scheifalter separat fir all Container berechent.
Mir hunn dës Analyse getrennt fir all Modell gemaach well all observéiert Korrelatiounen net wéinst Differenzen tëscht de méi jonken an eelere Modeller sinn, awer eleng wéinst dem Alter vun den Drive vum selwechte Modell. Mir hunn beobachtet datt och nodeems den Effekt vun de PE-Zyklen op déi uewe beschriwwen Manéier limitéiert ass, fir all Drive-Modeller nach ëmmer eng bedeitend Korrelatioun tëscht der Unzuel vun de Méint war e Drive am Feld a sengem RBER (Korrelatiounskoeffizienten variéiere vun 0,2 bis 0,4) ).
Reis. 3. D'Relatioun tëscht RBER an der Zuel vun PE-Zyklen fir nei an al Scheiwen weist datt den Alter vun der Scheif den RBER-Wäert beaflosst onofhängeg vun den PE-Zyklen, déi duerch Verschleiung verursaacht ginn.
Mir hunn och grafesch den Effekt vum Drive-Alter visualiséiert andeems d'Deeg vun der Benotzung vum Drive bei engem "jonken" Alter bis zu 1 Joer an d'Deeg vun der Benotzung vum Drive iwwer dem Alter vu 4 Joer deelt, an dann de RBER vun all Grupp géint d'Zuel vun PE Zyklen. Figur 3 weist dës Resultater fir den MLC-D Drive Modell. Mir gesinn e merkbare Ënnerscheed an RBER Wäerter tëscht de Gruppen vun alen an neien Disken duerch all PE Zyklen.
Vun dësem schléissen mir datt den Alter, gemooss duerch Deeg vun der Diskverbrauch am Feld, e wesentlechen Impakt op RBER huet, onofhängeg vun der Erënnerungszellverschleiung wéinst der Belaaschtung vu PE-Zyklen. Dëst bedeit datt aner Faktoren, wéi Siliziumalterung, eng grouss Roll spillen an der kierperlecher Verschleiung vun der Scheif.
4.2.3. RBER an Aarbechtsbelaaschtung.
Bitfehler ginn ugeholl datt se duerch ee vu véier Mechanismen verursaacht ginn:
- Stockage Feeler Retentioun Feeler, wann eng Erënnerung Zell Daten iwwer Zäit verléiert
Liesen Stéierungsfehler, an deenen eng Liesoperatioun den Inhalt vun enger ugrenzender Zell beschiedegt; - Schreift Stéierungsfehler, an deenen eng Liesoperatioun den Inhalt vun enger ugrenzender Zell beschiedegt;
- Onkomplett Läschfehler, wann d'Läschoperatioun den Inhalt vun der Zell net komplett läscht.
Feeler vun de leschten dräi Zorte (liesen stéieren, schreiwen stéieren, onkomplett läschen) sinn mat Aarbechtslaascht korreléiert, sou d'Verstoe vun der Korrelatioun tëscht RBER an Aarbechtslaascht hëlleft eis d'Prévalence vu verschiddene Feeler Mechanismen ze verstoen. An enger rezenter Etude, "A large-scale study of flash memory failures in the field" (MEZA, J., WU, Q., KUMAR, S., MUTLU, O. "A large-scale study of flash memory failures in Am Prozess vun der 2015 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems, New York, 2015, SIGMETRICS '15, ACM, S. 177–190) ofgeschloss datt Späicherfehler am Feld dominéieren, wärend Liesfehler sinn zimlech kleng.
Figur 1 weist eng bedeitend Relatioun tëscht dem RBER Wäert an engem gegebene Mount vum Disk Liewen an der Unzuel vu Liesen, Schreiwen a Läschen am selwechte Mount fir e puer Modeller (zum Beispill ass de Korrelatiounskoeffizient méi héich wéi 0,2 fir den MLC - B Modell a méi héich wéi 0,6 fir den SLC-B). Wéi och ëmmer, et ass méiglech datt dëst eng falsch Korrelatioun ass, well monatlecht Aarbechtsbelaaschtung ka mat der Gesamtzuel vun de PE Zyklen verbonne sinn.
Mir hunn déiselwecht Methodik benotzt, déi am Abschnitt 4.2.2 beschriwwe gëtt, fir d'Effekter vun der Aarbechtslaascht aus den Effekter vun PE-Zyklen ze isoléieren andeems d'Méint vun der Drive-Operatioun baséiert op fréiere PE-Zyklen isoléiert, an dann d'Korrelatiounskoeffizienten separat fir all Container bestëmmen.
Mir hunn gesinn datt d'Korrelatioun tëscht der Unzuel vu Liesungen an engem gegebene Mount vum Disk Life an dem RBER-Wäert an deem Mount fir d'MLC-B an SLC-B Modeller bestoe bliwwen ass, och wann d'PE-Zyklen limitéieren. Mir hunn och eng ähnlech Analyse widderholl, wou mir den Effekt vu Liesungen op d'Zuel vu gläichzäiteg Schreiwen a Läschen ausgeschloss hunn, an ofgeschloss hunn datt d'Korrelatioun tëscht RBER an der Unzuel vun Liesen fir den SLC-B Modell stëmmt.
Figur 1 weist och d'Korrelatioun tëscht RBER a Schreiwen a Läschen Operatiounen, sou datt mir déi selwecht Analyse widderholl fir Liesen, Schreiwen a Läschen Operatiounen. Mir schléissen datt andeems Dir den Impakt vu PE-Zyklen a Liesen limitéiert, et gëtt keng Relatioun tëscht dem RBER-Wäert an der Unzuel vu Schreiwen a Läschen.
Sou ginn et Scheif Modeller wou liesen Violatioun Feeler e wesentlechen Impakt op RBER hunn. Op der anerer Säit gëtt et keng Beweiser datt RBER duerch Schreifverletzungsfehler an onvollstänneg Läschfehler betraff ass.
4.2.4 RBER an lithography.
D'Ënnerscheeder an der Objektgréisst kënnen deelweis d'Ënnerscheeder an de RBER Wäerter tëscht Drive Modeller erkläre mat der selwechter Technologie, dh MLC oder SLC. (Kuckt Table 1 fir en Iwwerbléck iwwer d'Lithographie vun de verschiddene Modeller an dëser Etude abegraff).
Zum Beispill, 2 SLC Modeller mat 34nm Lithographie (Modeller SLC-A an SLC-D) hunn e RBER deen eng Uerdnung vun der Gréisst méi héich ass wéi déi vun 2 Modeller mat 50nm mikroelektronescher Lithographie (Modeller SLC-B an SLC-C). Am Fall vun MLC Modeller huet nëmmen den 43nm Modell (MLC-B) e Median RBER deen 50% méi héich ass wéi déi aner 3 Modeller mat 50nm Lithographie. Desweideren, vergréissert dësen Ënnerscheed zu RBER mat engem Faktor vun 4 wéi d'Drives ausschalten, wéi an der Figur 2. Endlech kann dënnere Lithographie déi méi héich RBER vun eMLC Drive am Verglach zu MLC Drive erklären. Allgemeng hu mir kloer Beweiser datt d'Lithographie RBER beaflosst.
4.2.5. Präsenz vun anere Feeler.
Mir ënnersicht d'Relatioun tëscht RBER an aner Zorte vu Feeler, wéi uncorrectable Feeler, Timeout Feeler, etc., besonnesch, ob de RBER Wäert no engem Mount vun Belaaschtung fir aner Zorte vu Feeler méi héich gëtt.
Figur 1 weist datt wärend de RBER vum leschte Mount viraussiichtlech ass fir zukünfteg RBER Wäerter (Korrelatiounskoeffizient méi wéi 0,8), et gëtt keng bedeitend Korrelatioun tëscht onkorrigéierbare Feeler an RBER (rietsste Grupp vun Artikelen an der Figur 1). Fir aner Zorte vu Feeler ass de Korrelatiounskoeffizient nach méi niddereg (net an der Figur gewisen). Mir exploréiert weider d'Relatioun tëscht RBER an uncorrectable Feeler am Sektioun 5.2 vun dësem Pabeier.
4.2.6. Afloss vun anere Faktoren.
Mir hunn Beweiser fonnt datt et Faktoren sinn, déi e wesentlechen Impakt op RBER hunn, déi eis Donnéeën net virstellen kënnen. Besonnesch hu mir gemierkt datt de RBER fir e bestëmmten Diskmodell variéiert jee no dem Cluster an deem d'Disk ofgebaut gëtt. E gutt Beispill ass Figur 4, déi weist RBER als Funktioun vun PE Zyklen fir MLC-D fiert an dräi verschiddene Stärekéip (gestreckt Linnen) a vergläicht et mat RBER fir dëse Modell relativ zu der Gesamtzuel vun fiert (fest Linn). Mir fannen datt dës Differenzen bestoe bleiwen och wa mir den Afloss vu Faktoren limitéieren wéi Disk Alter oder Zuel vu Liesungen.
Eng méiglech Erklärung dofir ass Differenzen am Aarbechtslaaschttyp iwwer Cluster, well mir beobachten datt Cluster deenen hir Aarbechtslaascht déi héchst Lies-/Schreifverhältnisser hunn déi héchste RBER.
Reis. 4 a), b). Median RBER Wäerter als Funktioun vu PE Zyklen fir dräi verschidde Stärekéip an Ofhängegkeet vum Lies- / Schreifverhältnis op d'Zuel vun de PE-Zyklen fir dräi verschidde Stärekéip.
Zum Beispill, Figur 4(b) weist d'Lies-/Schreifverhältnisser vu verschiddene Cluster fir den MLC-D Drive Modell. Wéi och ëmmer, d'Lies-/Schreifverhältnis erkläert net d'Ënnerscheeder tëscht Cluster fir all Modeller, sou datt et aner Faktore kënne sinn, déi eis Daten net berücksichtegen, sou wéi Ëmweltfaktoren oder aner extern Aarbechtslaaschtparameter.
4.3. RBER während beschleunegt Haltbarkeetstester.
Déi meescht wëssenschaftlech Aarbecht, wéi och Tester duerchgefouert beim Kaf vun Medien op industrieller Skala, viraussoen d'Zouverlässegkeet vun den Apparater am Feld op Basis vun de Resultater vun beschleunegten Haltbarkeetstester. Mir hu beschloss erauszefannen, wéi gutt d'Resultater vun esou Tester mat der praktescher Erfahrung am Betrieb vun Solid-State Storage Medien entspriechen.
Analyse vun Testresultater duerchgefouert mat der allgemenger beschleunegter Testmethodologie fir Ausrüstung, déi u Google Datenzenter geliwwert huet, huet gewisen datt Feld RBER Wäerter wesentlech méi héich sinn wéi virausgesot. Zum Beispill, fir den eMLC-a Modell, de Median RBER fir Scheiwen, déi am Feld operéiert goufen (um Enn vum Test ass d'Zuel vun de PE-Zyklen erreecht 600) war 1e-05, während no de Resultater vun de virleefegen beschleunegten Tester dës RBER Wäert soll méi wéi 4000 PE Zyklen entspriechen. Dëst weist datt et ganz schwéier ass den RBER Wäert am Feld präzis virauszesoen op Basis vun RBER Schätzungen aus Laboratoire Tester.
Mir hunn och bemierkt datt e puer Aarte vu Feeler zimmlech schwéier si während beschleunegt Testen ze reproduzéieren. Zum Beispill, am Fall vum MLC-B Modell, erliewen bal 60% vun den Drive am Feld onkorrigéierbar Feeler a bal 80% vun den Drive entwéckelen schlecht Blocks. Wéi och ëmmer, wärend der beschleunegter Ausdauerprüfung, huet kee vun de sechs Apparater onkorrigéierbar Feeler erlieft bis d'Drive méi wéi dräimol d'PE-Zykluslimit erreecht hunn. Fir eMLC Modeller sinn onkorrigéierbar Feeler a méi wéi 80% vun den Drive am Feld opgetrueden, wärend während beschleunegt Testen esou Feeler geschitt nodeems se 15000 PE Zyklen erreecht hunn.
Mir hunn och de RBER ugekuckt, deen an der fréierer Fuerschungsaarbecht gemellt gouf, déi op Experimenter an engem kontrolléierten Ëmfeld baséiert war, a schlussendlech datt d'Band vu Wäerter extrem breet war. Zum Beispill, L.M. Grupp an anerer an hirer 2009 -2012 Aarbecht Rapport RBER Wäerter fir fiert déi no bei der Erreeche vun PE Zyklus Grenzen sinn. Zum Beispill, fir SLC- a MLC-Geräter mat Lithographiegréissten ähnlech wéi déi an eiser Aarbecht benotzt (25-50nm), läit de RBER-Wäert vun 1e-08 bis 1e-03, mat de meeschte Drive Modeller getest mat engem RBER Wäert no bei 1e- 06.
An eiser Etude, déi dräi fueren Modeller datt d'PE Zyklus Limite erreecht haten RBERs rangéiert vun 3e-08 ze 8e-08. Och wann Dir berécksiichtegt datt eis Zuele méi niddereg Grenzen sinn an am absolute schlëmmste Fall 16 Mol méi grouss kënne sinn, oder wann Dir den 95. Prozentsaz vu RBER berücksichtegt, sinn eis Wäerter nach ëmmer wesentlech méi niddereg.
Insgesamt, wärend déi aktuell Feld RBER Wäerter méi héich sinn wéi virausgesot Wäerter baséiert op beschleunegt Haltbarkeetstester, si si nach ëmmer méi niddereg wéi déi meescht RBERs fir ähnlech Geräter, déi an anere Fuerschungspabeieren gemellt goufen a berechent aus Labor Tester. Dëst bedeit datt Dir net op virausgesot Feld RBER Wäerter sollt vertrauen, déi aus beschleunegten Haltbarkeetstester ofgeleet goufen.
5. Onkorrektbar Feeler.
Wéinst der verbreeter Optriede vun onkorrigéierbare Feeler (UEs), déi an der Sektioun 3 vun dësem Pabeier diskutéiert goufen, an dëser Sektioun entdecken mir hir Charakteristike méi detailléiert. Mir fänken un mat ze diskutéieren wéi eng Metrik ze benotzen fir UE ze moossen, wéi et op RBER ass, a wéi UE vu verschiddene Faktoren beaflosst gëtt.
5.1. Firwat den UBER Verhältnis net Sënn mécht.
D'Standard Metrik, déi onkorrigéierbar Feeler charakteriséiert ass den UBER onkorrigéierbare Bitfehlerquote, dat heescht d'Verhältnis vun der Unzuel vun onkorrigéierbaren Bitfehler an der Gesamtzuel vun de geliesene Bits.
Dës Metrik gëtt implizit ugeholl datt d'Zuel vun onkorrigéierbare Feeler iergendwéi un d'Zuel vun de geliesene Bits gebonnen ass, an dofir muss mat dëser Zuel normaliséiert ginn.
Dës Viraussetzung ass valabel fir korrigéierbar Feeler, wou d'Zuel vun de Feeler, déi an engem bestëmmte Mount observéiert ginn, héich korreléiert ass mat der Unzuel vu Liesungen iwwer déiselwecht Zäit (Spearman Korrelatiounskoeffizient méi wéi 0.9). De Grond fir sou eng staark Korrelatioun ass datt souguer e schlechte Bit, soulaang et korrigéierbar ass mat ECC, d'Zuel vu Feeler mat all Liesoperatioun eropgeet, déi se zougänglech ass, well d'Evaluatioun vun der Zell déi de schlechte Bit enthält ass net direkt korrigéiert wann e Feeler festgestallt gëtt (Disken schreiwen nëmme periodesch Säiten mat beschiedegte Bits).
Déi selwecht Viraussetzung gëllt net fir onkorrigéierbar Feeler. En onkorrigéierbare Feeler verhënnert d'Verwäertung vum beschiedegte Block, also wann et festgestallt gëtt, wäert esou e Block net d'Zuel vu Feeler an Zukunft beaflossen.
Fir dës Viraussetzung formell ze bestätegen, hu mir verschidde Metriken benotzt fir d'Relatioun tëscht der Unzuel vun de Liesungen an engem bestëmmte Mount vum Disk Liewen an der Unzuel vun onkorrigéierbare Feeler iwwer déiselwecht Zäit ze moossen, dorënner verschidde Korrelatiounskoeffizienten (Pearson, Spearman, Kendall) , souwéi visuell Inspektioun vu Grafike. Zousätzlech zu der Unzuel vun onkorrektablen Feeler, hu mir och d'Frequenz vun onkorrigéierbaren Fehlerfälle gekuckt (dh d'Wahrscheinlechkeet datt eng Scheif op d'mannst een esou Tëschefall während enger bestëmmter Zäit huet) an hir Relatioun mat Liesoperatiounen.
Mir hu keng Beweiser fir eng Korrelatioun tëscht der Unzuel vun de Liesungen an der Unzuel vun onkorrigéierbare Feeler fonnt. Fir all Drive Modeller waren d'Korrelatiounskoeffizienten ënner 0.02, an d'Grafike weisen keng Erhéijung vun der UE wéi d'Zuel vun de Liesungen eropgeet.
Am Abschnitt 5.4 vun dësem Pabeier diskutéiere mir datt Schreiwen a Läschen Operatiounen och keng Relatioun zu onkorrektbare Feeler hunn, sou datt d'alternativ Definitioun vun UBER, déi normaliséiert gëtt duerch Schreiwen oder Läschen Operatiounen amplaz vu Liesoperatiounen, keng Bedeitung huet.
Mir schléissen dofir datt UBER keng sënnvoll Metrik ass, ausser vläicht wann se a kontrolléiert Ëmfeld getest ginn, wou d'Zuel vu Liesen vum Experimenter festgeluecht gëtt. Wann UBER als Metrik während Feldtestung benotzt gëtt, wäert et de Fehlerquote fir Drive mat engem héije Lieszuel kënschtlech senken a kënschtlech de Fehlerquote fir Drive mat engem nidderegen Lieszuel opblasen, well onkorrigéierbar Feeler optrieden onofhängeg vun der Unzuel vu Liesungen.
5.2. Onkorrektbar Feeler an RBER.
D'Relevanz vum RBER gëtt erkläert duerch d'Tatsaach datt et als Moossnam déngt fir d'Gesamt Zouverlässegkeet vum Drive ze bestëmmen, besonnesch op Basis vun der Wahrscheinlechkeet vun onkorrektbare Feeler. An hirer Aarbecht, N. Mielke et al an 2008 waren déi éischt déi proposéiere déi erwaart uncorrectable Feeler Taux als Funktioun vun RBER ze definéieren. Zënterhier hunn vill Systementwéckler ähnlech Methoden benotzt, sou wéi d'Schätzung vum erwaarten onkorrektbare Fehlerquote als Funktioun vum RBER- an ECC-Typ.
Den Zweck vun dëser Rubrik ass ze charakteriséieren wéi gutt RBER onkorrigéierbar Feeler virausgesot. Loosst eis mat der Figur 5a ufänken, déi de Median RBER fir eng Zuel vun den éischten Generatioun Drive Modeller géint de Prozentsaz vun den Deeg wou se am Gebrauch waren, déi onkorrektbar UE Feeler erlieft hunn. Et sollt bemierkt datt e puer vun de 16 Modeller, déi an der Grafik ugewise ginn, net an der Tabell 1 abegraff sinn wéinst engem Manktem un analytescher Informatioun.
Reis. 5a. Relatioun tëscht median RBER an uncorrectable Feeler fir verschidde fueren Modeller.
Reis. 5b vun. Relatioun tëscht mediane RBER an uncorrectable Feeler fir verschidden fiert vum selwechte Modell.
Erënneren datt all Modeller bannent der selwechter Generatioun déi selwecht ECC Mechanismus benotzen, sou Differenzen tëscht Modeller sinn onofhängeg vun ECC Differenzen. Mir hunn keng Korrelatioun tëscht RBER an UE Tëschefäll gesinn. Mir hunn déi selwecht Komplott fir den 95. Prozentsaz RBER versus UE Wahrscheinlechkeet erstallt an erëm keng Korrelatioun gesinn.
Als nächst hu mir d'Analyse bei enger Granularitéit vun eenzelne Placken widderholl, dat heescht, mir hu probéiert erauszefannen, ob et Scheiwen waren, wou e méi héije RBER-Wäert mat enger méi héijer UE-Frequenz entsprécht. Als Beispill setzt Figur 5b de Median RBER fir all Drive vum MLC-c Modell versus d'Zuel vun den UEs (Resultater ähnlech wéi déi fir den 95. Prozenttil RBER). Nach eng Kéier hu mir keng Korrelatioun tëscht RBER an UE gesinn.
Endlech hu mir eng méi präzis Timing Analyse gemaach fir z'iwwerpréiwen ob d'Operatiounsméint vun den Drive mat méi héije RBER mat de Méint entsprécht während deenen UEs geschitt sinn. Figur 1 huet schonn uginn datt de Korrelatiounskoeffizient tëscht onkorrektablen Feeler an RBER ganz niddereg ass. Mir hunn och experimentéiert mat verschiddene Weeër fir d'Wahrscheinlechkeet vun der UE als Funktioun vum RBER ze plotten a keng Beweiser vu Korrelatioun fonnt.
Also schléissen mir datt RBER eng onzouverlässeg Metrik ass fir UE virauszesoen. Dëst kann heeschen datt d'Feelemechanismen, déi zu RBER féieren, ënnerschiddlech sinn vun de Mechanismen, déi zu onkorrektbare Feeler féieren (zB Feeler, déi an eenzel Zellen enthale sinn versus gréisser Problemer, déi mam ganzen Apparat geschéien).
5.3. Onkorrigéierbar Feeler a Verschleiung.
Zënter Verschleiung ass ee vun den Haaptprobleemer vum Flash-Erënnerung, weist d'Bild 6 d'deeglech Wahrscheinlechkeet vun onkorrektablen Drivefehler als Funktioun vu PE-Zyklen.
Figur 6. Deeglech Wahrscheinlechkeet vun Optriede vun uncorrectable fueren Feeler je PE Zyklen.
Mir bemierken datt d'Wahrscheinlechkeet vun enger UE kontinuéierlech mam Alter vum Drive eropgeet. Wéi och ëmmer, wéi mat RBER, ass d'Erhéijung méi lues wéi normalerweis ugeholl: d'Grafike weisen datt UEs linear wuessen anstatt exponentiell mat PE-Zyklen.
Zwee Conclusiounen, déi mir fir RBER gemaach hunn, gëllen och fir UEs: éischtens gëtt et keng kloer Erhéijung vum Fehlerpotenzial wann d'PE-Zykluslimit erreecht ass, sou wéi an der Figur 6 fir den MLC-D Modell deem seng PE-Zykluslimit 3000 ass. Zweetens, Zweetens. , de Fehlerquote variéiert tëscht verschiddene Modeller, och an der selwechter Klass. Allerdéngs sinn dës Differenzen net esou grouss wéi fir RBER.
Schlussendlech, fir eis Erkenntnisser am Sektioun 5.2 z'ënnerstëtzen, hu mir festgestallt datt an enger eenzeger Modellklass (MLC vs. SLC), d'Modeller mat den niddregsten RBER Wäerter fir eng bestëmmten Zuel vu PE Zyklen net onbedéngt déi mat dem niddregsten sinn Wahrscheinlechkeet vun UE Optriede. Zum Beispill, iwwer 3000 PE Zyklen, MLC-D Modeller haten RBER Wäerter 4 Mol manner wéi MLC-B Modeller, awer d'UE Probabilitéit fir déi selwecht Zuel vu PE Zyklen war liicht méi héich fir MLC-D Modeller wéi fir MLC-B Modeller.
Figur 7. Mount Wahrscheinlechkeet vun Optriede vun uncorrectable fueren Feeler als Funktioun vun der Präsenz vun virdrun Feeler vun verschidden Zorte.
5.4. Onkorrigéierbar Feeler an Aarbechtsbelaaschtung.
Fir déi selwecht Grënn, datt d'Aarbechtslaascht RBER Afloss kann (kuckt Sektioun 4.2.3), et kann erwaart ginn och d'UE Afloss. Zum Beispill, well mir observéiert hunn datt Liesverletzungsfehler RBER beaflossen, kënnen d'Liesoperatiounen och d'Wahrscheinlechkeet vun onkorrektbare Feeler erhéijen.
Mir hunn eng detailléiert Etude iwwer den Impakt vun der Aarbechtsbelaaschtung op der UE gemaach. Wéi och ëmmer, wéi an der Sektioun 5.1 bemierkt, hu mir keng Relatioun tëscht der UE an der Unzuel vun de Liesungen fonnt. Mir widderhuelen déi selwecht Analyse fir Schreiwen a Läschen Operatiounen an hunn erëm keng Korrelatioun gesinn.
Notéiert datt dëst op den éischte Bléck eis viregt Observatioun widdersprécht datt onkorrigéierbar Feeler mat PE Zyklen korreléiert sinn. Dofir kéint ee gutt eng Korrelatioun mat der Unzuel vu Schreif- a Läschoperatioune erwaarden.
Wéi och ëmmer, an eiser Analyse vum Impakt vun PE-Zyklen hu mir d'Zuel vun onkorrigéierbare Feeler an engem bestëmmte Mount verglach mat der Gesamtzuel vun de PE-Zyklen, déi den Drive während hirem Liewen bis haut erlieft huet fir den Effekt vum Verschleiung ze moossen. Wann Dir den Impakt vun der Aarbechtsbelaaschtung studéiert, hu mir d'Monate vun der Drive-Operatioun gekuckt, déi déi héchsten Unzuel u Lies-/Schreif-/läsche-Operatiounen an engem bestëmmte Mount haten, wat och eng méi héich Chance hat fir onkorrigéierbar Feeler ze verursaachen, dat heescht, mir hunn net ageholl Kont d'total Zuel vun liesen / schreiwen / läschen Operatiounen.
Als Resultat si mir zur Conclusioun komm datt d'Verletzungsfehler liesen, d'Verletzungsfehler schreiwen an d'onkomplett Läschfehler net d'Haaptfaktoren bei der Entwécklung vun onkorrigéierbare Feeler sinn.
Merci datt Dir bei eis bleift. Hutt Dir eis Artikelen gär? Wëllt Dir méi interessant Inhalt gesinn? Ënnerstëtzt eis andeems Dir eng Bestellung maacht oder Frënn empfeelt, 30% Remise fir Habr Benotzer op engem eenzegaartegen Analog vun Entry-Level Serveren, dee vun eis fir Iech erfonnt gouf: (verfügbar mat RAID1 an RAID10, bis zu 24 Kären a bis zu 40GB DDR4).
Dell R730xd 2 Mol méi bëlleg? Nëmmen hei an Holland! Dell R420 - 2x E5-2430 2.2Ghz 6C 128GB DDR3 2x960GB SSD 1Gbps 100TB - vun $99! Liest iwwer
Source: will.com