如果不改进半导体生产技术,就无法想象微电子学的进一步发展。 为了扩大边界并学习如何在晶体上生产更小的元素,需要新技术和新工具。 其中一项技术可能是美国科学家的突破性发展。
美国能源部阿贡国家实验室的研究团队
所提出的技术类似于传统工艺
与原子层蚀刻的情况一样,MLE方法在具有有机基材料膜的晶体表面的腔室中使用气体处理。 用两种不同的气体交替循环处理晶体,直到薄膜减薄至给定的厚度。
化学过程受自我调节法则的约束。 这意味着一层又一层地以受控方式均匀地去除。 如果使用光掩模,则可以在芯片上重现未来芯片的拓扑结构,并以最高精度蚀刻设计。
在实验中,科学家使用含有锂盐的气体和基于三甲基铝的气体进行分子蚀刻。 在蚀刻过程中,锂化合物与铝酮薄膜表面发生反应,锂沉积在表面,破坏了薄膜中的化学键。 然后加入三甲基铝,一层一层地去除含锂的薄膜,如此一层一层地去除,直至薄膜减薄至所需的厚度。 科学家认为,该过程的良好可控性可以使所提出的技术推动半导体生产的发展。
来源: 3dnews.ru