Des scientifiques ont créé un système de « rayons X » pour les puces électroniques fonctionnelles – un rêve devenu réalité pour les inspecteurs et les pirates informatiques.

Une équipe internationale de scientifiques de l'Université d'Adélaïde (Australie), de Virginia Diodes (États-Unis), de l'Institut Hasso Plattner et de l'Université de Potsdam (Allemagne) a développé Une technologie révolutionnaire pour la surveillance sans contact des puces électroniques en fonctionnement. Véritable « vision aux rayons X » pour l'électronique, elle permet d'observer les processus internes des semi-conducteurs sans intervention physique, sans démontage ni mise hors tension du dispositif.

Des scientifiques ont créé un système de « rayons X » pour les puces électroniques fonctionnelles – un rêve devenu réalité pour les inspecteurs et les pirates informatiques.

L'essentiel de cette découverte réside dans le fait que des scientifiques sont parvenus, pour la première fois, à suivre en temps réel les mouvements microscopiques de charges électriques à l'intérieur de dispositifs semi-conducteurs entièrement encapsulés (diodes, transistors et autres composants) grâce aux ondes térahertz. Ce rayonnement sûr et non ionisant pénètre le boîtier de la puce et enregistre les variations d'activité électrique, une opération auparavant considérée comme quasiment impossible sans méthodes d'analyse destructives.

Cette technique repose sur l'utilisation du rayonnement térahertz combiné à un récepteur homodyne en quadrature de haute sensibilité. Ce système supprime efficacement le bruit de fond et isole les signaux extrêmement faibles générés par le mouvement des charges dans les régions actives du semi-conducteur. La résolution de la méthode permet la détection de phénomènes à des échelles nettement inférieures à la longueur d'onde térahertz, la rendant applicable même aux puces modernes à forte intégration.

Cette nouvelle technologie ouvre de vastes perspectives dans les secteurs de l'énergie, de la défense, de l'aérospatiale et de la cybersécurité, où une vérification fiable de l'intégrité et du fonctionnement des composants électroniques, sans analyse destructive, est indispensable. Elle pourrait servir de base à la création de systèmes de diagnostic autonome et accélérer considérablement le développement et la vérification de nouveaux dispositifs semi-conducteurs. Il est important de noter qu'aucun mécanisme anti-piratage intégré ne protège contre cette « radiographie », ce qui ouvre potentiellement une nouvelle voie aux cyberattaques et représente une menace sérieuse.

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Source: 3dnews.ru
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